工作职责
1.负责芯片后端测试方案设计，涵盖scan、MemoryBIST/BISR、JTAG、BoundaryScan等内容；
2.开展DFT设计技术研究，持续优化测试策略与实施流程；
3.参与scan及MemoryBIST/BISR集成相关工具的自动化开发与自主化建设。

任职资格
1.电子工程、微电子等相关专业本科及以上学历，需具备2年以上相关领域工作经验；
2.熟练掌握各类DFT设计技术，包括JTAG、ATPG、Scan、MemoryBIST、faultmodel等；
3.了解形式验证方法，能够完成pre-DFT与post-DFT阶段的逻辑一致性比对；
4.熟练使用tcl/tk或perl脚本语言，掌握Linux/Unix环境下shell编程；
5.具备必要的集成电路设计能力：如verilog/VHDL/RTL代码编写及VCS工具应用等；
6.具备ATE测试支持经验，拥有芯片批量生产测试经历者优先考虑；
7.具备独立开展工作的能力，学习能力强，具有良好的团队协作意识、沟通技巧和工作积极性。